Przejdź do głównej treści
Menu
O firmie
Produkty
Zastosowania
Szkło
Metale
Tworzywa sztuczne
Przemysł samochodowy
Elektronika
Półprzewodniki
Panele solarne
Akumulatory
Wykrywanie pożarów i bezpieczeństwo
Monitoring
Druk 3D i wytwarzanie przyrostowe
Produkcja ogólna
Farmacja i medycyna
Żywność
Mapa strony
FAQ
Kontakt
12 632 13 01
12 632 61 88
12 632 10 37
office@test-therm.pl
O firmie
Produkty
Pirometry stacjonarne
Seria CS
Seria CSmicro
Seria CT
Seria CTi
Seria CTi ATEX
Seria CTlaser
Seria CSlaser
Seria CTvideo
Seria CSvideo
Seria CTratio
Seria CSvision
Akcesoria do pirometrów
Kamery termowizyjne
Seria kompaktowa
Seria precyzyjna
Akcesoria do kamer
Gotowe zestawy z kamerą
Mikroskopy termowizyjne
Systemy inspekcji szkła
Systemy monitoringu
Zestawy przemysłowe
Zestawy do pieców
Zastosowania
Szkło
Metale
Tworzywa sztuczne
Przemysł samochodowy
Elektronika
Półprzewodniki
Panele solarne
Akumulatory
Wykrywanie pożarów i bezpieczeństwo
Monitoring
Druk 3D i wytwarzanie przyrostowe
Produkcja ogólna
Farmacja i medycyna
Żywność
Mapa strony
FAQ
Kontakt
Home
Zastosowania
Elektronika
Elektronika
Badania mikrotermograficzne układów MEMS i mikroprocesorów nowej generacji
Zminiaturyzowane układy elektroniczne i układy MEMS coraz częściej narażone są na lokalne przegrzanie z powodu gęstej struktury obwodów i warstwowej obudowy, co utrudnia walidację termiczną. Nieinwazyjne wykrywanie mikroskopijnych defektów i punktów…
Czytaj więcej
Walidacja elektroniki przy pomocy obrazów radiometrycznych
Przegrzanie komponentów PCB w zamkniętej obudowie powoduje problemy z niezawodnością, a termopary kontaktowe zniekształcają dokładne odczyty małych, wrażliwych na ciepło elementów ze względu na swoją masę termiczną i przewodnictwo cieplne. Rozwiązan…
Czytaj więcej
Lutowanie rozpływowe
Utrzymanie jednolitej temperatury na płytkach PCB podczas lutowania rozpływowego jest trudne ze względu na zróżnicowanie rozmiarów i materiałów komponentów. Wrażliwe komponenty są podatne na naprężenia termiczne, a tradycyjne metody monitorowania te…
Czytaj więcej