Przejdź do głównej treści

System inspekcji szkła top-down GIS 640R

System kontroli do szkła niskoemisyjnego.
Pirometr referencyjny do korekcji pomiarów.
Funkcja skanowania liniowego.
Obliczanie powierzchni szkła.
Ochrona optyki kamer (DCLP) eliminująca potrzebę nadmuchu.
Wstępnie zmontowany system gotowy do montażu.

Zapytaj o produkt
System inspekcji szkła top-down GIS 640R

Opis produktu

Szkło niskoemisyjne (Low-E), zaprojektowane w celu zwiększenia efektywności energetycznej budynków, stanowi poważne wyzwanie dla tradycyjnych urządzeń wykorzystujących podczerwień (IR) do pomiaru temperatury szkła od góry, gdy tafle wychodzą z pieca. Powszechnie stosowane w oknach i elementach fasadowych, szkło niskoemisyjne jest zazwyczaj konstruowane jako wieloszybowe szkło izolacyjne z powłoką o bardzo niskiej emisyjności. Ta niska emisyjność utrudnia dokładny pomiar temperatury szkła za pomocą tradycyjnych liniowych skanerów podczerwieni, ponieważ zazwyczaj celują one w stronę powlekaną od góry, co prowadzi do potencjalnych niedokładności odczytów temperatury i problemów z kontrolą jakości.

System inspekcji szkła Top-Down (Top-Down GIS) został opracowany w celu rozwiązania tego problemu. System ten ma na celu zapewnienie dokładnych pomiarów temperatury szkła niskoemisyjnego podczas produkcji. W przeciwieństwie do Bottom-Up GIS, który mierzy temperaturę od spodu szkła, Top-Down GIS mierzy temperaturę od góry, wykorzystując dodatkowy pirometr referencyjny od dołu do korygowania emisyjności. To podwójne podejście pomiarowe zapewnia wykrywanie wadliwych lub niejednorodnych powierzchni i umożliwia regulację nagrzewania lub chłodzenia w oparciu o rozkład temperatury, zapewniając optymalną jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Pomiar od dołu jest konieczny z dwóch powodów: powlekana górna strona szkła ma niską emisyjność, co utrudnia dokładny pomiar, a ze względu na niską wysokość pieca często brakuje miejsca na pomiary od dołu za pomocą kamer. Taka konfiguracja wymagałaby zastosowania więcej niż jednej kamery, a szerokokątny obraz mógłby mieć różny wpływ na pomiary. Dzięki zastosowaniu dodatkowego pirometru referencyjnego od dołu, system Top-Down GIS może korygować wahania emisyjności i zapewniać dokładne odczyty temperatury, nawet w ograniczonej przestrzeni pieca. To podwójne podejście zwiększa zdolność systemu do wykrywania wad i precyzyjnej kontroli nad procesem produkcji szkła.

System Top-Down GIS wykorzystuje dwie kamery na podczerwień o wysokiej rozdzielczości, umieszczone nad linią hartowania, do pomiaru temperatury górnej strony szkła. Ten system, a w szczególności Top-Down GIS 640 R, obejmuje pomiar temperatury odniesienia z czujnika umieszczonego poniżej oraz automatyczną korekcję emisyjności zarówno dla szkła standardowego, jak i niskoemisyjnego. Został on opracowany specjalnie do sterowania procesami w maszynach do hartowania szkła. Funkcja skanowania liniowego z kamerą PI z góry, w połączeniu z pomiarami referencyjnymi z pirometru umieszczonego poniżej, jest niezbędna, ponieważ powłoki niskoemisyjne minimalizują promieniowanie podczerwone przechodzące przez szkło, ale nie ograniczają efektu termicznego światła widzialnego. To podwójne podejście pomiarowe zapewnia dokładne odczyty temperatury i skuteczną kontrolę procesu, utrzymując jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Kamery termowizyjne stosowane w Top-Down GIS, takie jak zintegrowana PI 640i G7, zostały opracowane specjalnie dla przemysłu szklarskiego. Kamery te charakteryzują się odpowiedzią widmową 7.9 μm i zakresem temperatur 150…1500°C, dzięki czemu nadają się do szerokiego zakresu zastosowań w produkcji, rafinacji i dalszym przetwarzaniu szkła. Połączenie tych kamer z zaawansowanym pirometrem referencyjnym zapewnia dokładne i niezawodne pomiary temperatury różnych produktów szklanych, w tym tafli szklanych. Wysoka rozdzielczość umożliwia precyzyjne mapowanie temperatury i kompleksowe pokrycie całej powierzchni szkła, gwarantując, że żaden obszar nie zostanie pominięty.

System zawiera cyfrowo sterowany system ochrony soczewek (DCLP), który eliminuje potrzebę dodatkowego przedmuchiwania. Ten system kontroli szkła umożliwia szybkie wykrywanie różnic temperatur podczas procesów hartowania szkła, co pozwala uniknąć odrzutów i zapewnia automatyczne monitorowanie jakości. DCLP zapewnia czystość i sprawność soczewek, zwiększając ogólną niezawodność i wydajność systemu w utrzymaniu wysokich standardów produkcji szkła.

Kamery termowizyjne Optris są dostarczane z bezpłatnym oprogramowaniem PIX Connect, które umożliwia pracę kamer jako kamer liniowych. Tradycyjne skanery liniowe, stosowane w przemyśle szklarskim do różnych procedur pomiarowych, są nieporęczne, drogie i wymagają znacznego nakładu pracy ręcznej podczas konfiguracji. Natomiast system kamer termowizyjnych jest kompaktowy i ekonomiczny, oferując szereg korzyści. Oprogramowanie umożliwia elastyczne pozycjonowanie i wymiarowanie linii skanowania, dostarczając kompletne obrazy w podczerwieni, które dostarczają cennych dodatkowych informacji, szczególnie podczas konfiguracji. Ta elastyczność upraszcza proces instalacji oraz zwiększa ogólną wydajność i dokładność pomiarów temperatury w produkcji szkła.

Kamery mogą precyzyjnie mierzyć temperaturę powierzchni ruchomych obiektów przy użyciu minimalnej apertury, co jest szczególnie istotne w przemyśle szklarskim. Ponieważ temperatura szkła bezpośrednio wpływa na jego jakość, precyzyjny pomiar temperatury w wielu punktach podczas produkcji ma kluczowe znaczenie. Zebrane dane są przesyłane bezpośrednio do systemu sterowania procesem, umożliwiając regulację w czasie rzeczywistym i zapewnienie optymalnej jakości produktu. Ta funkcja pomaga zachować spójność, zmniejsza ryzyko wystąpienia wad i zwiększa ogólną wydajność procesu produkcyjnego.

Oprócz pomiaru rozkładu temperatury, system Top-Down GIS oblicza powierzchnię szkła. Ta funkcja jest niezbędna do kontroli procesu i zapewnienia jakości, umożliwiając szczegółową analizę szkła w trakcie produkcji. Zdolność systemu do dostarczania dokładnych danych dotyczących temperatury pomaga utrzymać jakość i spójność szkła, co ma kluczowe znaczenie dla jego wydajności w zastosowaniach energooszczędnych. Zapewniając precyzyjne monitorowanie temperatury i obliczanie powierzchni, system Top-Down GIS wspiera produkcję wysokiej jakości wyrobów szklanych, spełniających rygorystyczne normy branżowe.

System Top-Down GIS jest dostarczany jako wstępnie zmontowany system, który można łatwo zainstalować w piecach do hartowania szkła. To kompleksowe rozwiązanie upraszcza proces wdrażania, umożliwiając producentom szybką integrację systemu z istniejącymi liniami produkcyjnymi. Konstrukcja systemu zapewnia minimalne zakłócenia podczas instalacji, zapewniając jednocześnie natychmiastowe korzyści w zakresie dokładności pomiaru temperatury i kontroli procesu. System składa się z kilku wstępnie okablowanych komponentów gotowych do natychmiastowego użycia. System podczerwieni zasilany jest napięciem 24 V i łączy się z komputerem za pomocą kabla Ethernet. System może być używany bezpośrednio z oprogramowaniem analitycznym PIX Connect i predefiniowanym układem, co umożliwia bezproblemową obsługę i efektywną analizę danych od momentu instalacji.

Szkło niskoemisyjne (Low-E), zaprojektowane w celu zwiększenia efektywności energetycznej budynków, stanowi poważne wyzwanie dla tradycyjnych urządzeń na podczerwień (IR), które mierzą temperaturę szkła od góry, gdy tafle wychodzą z pieca. Szkło niskoemisyjne, powszechnie stosowane w oknach i elementach fasad, jest zazwyczaj konstruowane jako wieloszybowe szkło izolacyjne z powłoką o bardzo niskiej emisyjności. Ta niska emisyjność utrudnia dokładny pomiar temperatury szkła za pomocą tradycyjnych skanerów liniowych na podczerwień, ponieważ zazwyczaj celują one w stronę powlekaną od góry, co prowadzi do potencjalnych niedokładności odczytów temperatury i problemów z kontrolą jakości.

System inspekcji szkła Top-Down (Top-Down GIS) został opracowany w celu rozwiązania tego problemu. System ten ma na celu zapewnienie dokładnych pomiarów temperatury szkła niskoemisyjnego podczas produkcji. W przeciwieństwie do metody Bottom-Up GIS, która mierzy od spodu szkła, metoda Top-Down GIS mierzy od góry, wykorzystując dodatkowy pirometr referencyjny od dołu do korekcji emisyjności. To podwójne podejście do pomiaru zapewnia wykrywanie wadliwych lub niejednorodnych powierzchni i umożliwia regulację ogrzewania lub chłodzenia w oparciu o rozkład temperatury, zapewniając optymalną jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Pomiar od dołu jest konieczny z dwóch powodów: powlekana górna strona szkła ma niską emisyjność, co utrudnia dokładny pomiar, a ze względu na niską wysokość pieca często brakuje miejsca na pomiary od dołu za pomocą kamer. Taka konfiguracja wymagałaby więcej niż jednej kamery, a szerokokątny obraz mógłby mieć różny wpływ na pomiary. Dzięki zastosowaniu dodatkowego pirometru referencyjnego od dołu, metoda Top-Down GIS może korygować wahania emisyjności i zapewniać dokładne odczyty temperatury, nawet w ograniczonej przestrzeni pieca. To podwójne podejście do pomiaru zwiększa zdolność systemu do wykrywania wad i precyzyjnej kontroli nad procesem produkcji szkła.

System Top-Down GIS wykorzystuje dwie kamery termowizyjne o wysokiej rozdzielczości, umieszczone nad linią hartowania, do pomiaru temperatury górnej powierzchni szkła. System ten, a w szczególności Top-Down GIS 640 R, obejmuje pomiar temperatury odniesienia z czujnika poniżej oraz automatyczną korekcję emisyjności zarówno dla szkła standardowego, jak i niskoemisyjnego. Został on opracowany specjalnie do sterowania procesami w maszynach do hartowania szkła. Funkcja skanowania liniowego z kamerą PI powyżej, w połączeniu z pomiarami referencyjnymi z pirometru poniżej, jest niezbędna, ponieważ powłoki niskoemisyjne minimalizują promieniowanie podczerwone przechodzące przez szkło, ale nie efekt termiczny światła widzialnego. To podwójne podejście pomiarowe zapewnia dokładne odczyty temperatury i skuteczną kontrolę procesu, utrzymując jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Kamery termowizyjne stosowane w systemie Top-Down GIS, takie jak zintegrowany PI 640i G7, zostały opracowane specjalnie dla przemysłu szklarskiego. Kamery te charakteryzują się czułością widmową 7.9 μm i zakresem temperatur 150…1500°C, co czyni je odpowiednimi do szerokiego zakresu zastosowań w produkcji, rafinacji i dalszym przetwarzaniu szkła. Połączenie tych kamer z zaawansowanym pirometrem referencyjnym zapewnia dokładne i niezawodne pomiary temperatury różnych produktów szklanych, w tym tafli szklanych. Wysoka rozdzielczość umożliwia precyzyjne mapowanie temperatury i kompleksowe pokrycie całej powierzchni szkła, gwarantując, że żaden obszar nie zostanie prześwietlony.

Dostępne modele

MODEL TDGIS 640 G7 33°x25° TDGIS 640 G7 60°x45° TDGIS 640 G7 90°x64°
Kąt widzenia 33°x25° 60°x45° 90°x64°
Ogniskowa f 18.7 mm 10.5 mm 7.7 mm
Jasność obiektywu F 0.8
Rozdzielczość optyczna 354:1 181:1 105:1
Minimalna odległość od obiektu 200 mm
Chwilowe pole widzenia (1 px)  0.3 mm  0.4 mm 0.7 mm
Minimalne pomiarowe pole widzenia MFOV 0.9 mm 1.2 mm 2.1 mm
CZUJNIK ROZBICIA SZKŁA - PARAMETRY  
Detektor Termostos
Zasada pomiaru Jednobarwna
Zakres spektralny 5 μm
Czas reakcji 120 μs (90% sygnału)
Czas ekspozycji 120 μs (90% sygnału)
Częstotliwość próbkowania 8 Hz
Wymienna głowica czujnika Nie dotyczy
Rozdzielczość optyczna 10:1
Wielkość pola pomiarowego (optyka SF) 40 mm @ 400 mm
Odległość niezależna  
Celownik  brak
Zakres pomiarowy 100…1200°C
Dokładność 2) ±1% odczytu lub +2°C
Powtarzalność 2) ±0.5% odczytu lub +0.5°C
Dryft termiczny 3) ±0.05 K/K
Czułość termiczna (NETD) 100 mK
Czas stabilizacji brak
Emisyjność / przepuszczalność / odbicie 0.100…1.100
ZAWARTOŚĆ ZESTAWU
Przesłona kamery termowizyjnej W zestawie
Przesłona pirometru wzorcowego W zestawie
Obudowa  W zestawie
Pilot zdalnego sterowania  W zestawie
Kod zamawiania OPTTDGIS64IO33R OPTTDGIS64IO60R OPTTDGIS64IO90R

Dane techniczne

DetektorBolometr (niechłodzony)
Rozdzielczość matrycy640x480 px
Raster matrycy17 µm
Pasmo7.9 µm
Filtr optycznyWbudowany
Częstotliwość ramki32 Hz @ 640x480 px
125 Hz @ 640x120 px (skanowanie liniowe)
Rozdzielczość optycznaPatrz tabela modeli
Kąt widzeniaPatrz tabela modeli
Ogniskowa (f)Patrz tabela modeli
Jasność obiektywu (F)Patrz tabela modeli
Odległość minimalnaPatrz tabela modeli
Wymienny obiektywTak
Zakres pomiarowy200…1500°C
150… 900°C
(zakres obserwacji 0…250°C)
Dokładność±2°C lub ±2%, zależnie co większe [*1]
Czułość termiczna (NETD)80 mK
Chwilowe pole widzenia IFOV (1x1 px)Patrz tabela modeli
Minimalne mierzalne pole widzenia MFOVPatrz tabela modeli
Wielkość pola MFOV3x3 px
Czas stabilizacji termicznej10 min
Emisyjność / przepuszalność / współcz. odbicia0.100…1.100
InterfejsyEthernet (PoE)
Protokoły komunikacyjneWłasnościowy / ASCII
Kompatybilne oprogramowanie
  • PIXConnect
  • EasyAPI
  • ExpertAPI
  • ConnectSDK
KonfiguracjaPIX Connect
DziałanieWspomagane komputerem
Wymiary400x200x155 mm, przysłona 116x57x121 mm
Masa13 kg (cały system)
Materiał obudowyStal kwasoodporna
Temperatura pracy0…50°C
Temperatura przechowywania-40…85°C
Wilgotność względna10…95%, bez kondensacji
Stopień ochronyIP65
Kompatybilność EMCDyrektywa 2014/30/UE
Odporność na wibracjeIEC 60068-2-6 (sinusoidalne) / IEC 60068-2-64 (szerokopasmowe)
Odporność na wstrząsyIEC 60068-2-27 (25G i 50G)
Zgodność z przepisamiCE, RoHS, UKCA
Napięcie zasilania100…230 VAC / 24 VDC
Pobór prądu3 A
Przypisy1) Dokładność określona powyżej 150°C

Akcesoria