Opis produktu
Xi 400 z optyką mikroskopową to system kamery termowizyjnej do analizy termicznej płytek drukowanych i pomiaru temperatury elementów elektronicznych w przystępnym zakresie rozdzielczości 382 x 288 pikseli. Łączy on długofalową kamerę termowizyjną ze stolikiem mikroskopowym, co zapewnia precyzyjne ustawianie ostrości, dzięki optyce zoptymalizowanej pod kątem pomiarów małych obiektów. Ten wydajny zestaw kamery termowizyjnej jest dostępny na większości rynków w przystępnej cenie.
Małe urządzenia i złącza są powszechne w branży elektronicznej, ale większość systemów kamer termowizyjnych jest zbudowana z optyką zoptymalizowaną pod kątem większych obiektów. Do opisu rozdzielczości podczerwieni stosuje się różne specyfikacje, co utrudnia porównywanie produktów. Różni producenci używają terminów takich jak chwilowe pole widzenia (IFOV), chwilowy kąt widzenia (mrad), rozmiar piksela, raster matrycy detektora i pomiarowe pole widzenia (MFOV), aby określić ten ważny atrybut pomiarowy. Różnice te wynikają częściowo z wymagań aplikacji, gdzie w niektórych przypadkach priorytetem jest wykrywanie wzrostu temperatury, podczas gdy w innych wymagany jest dokładny pomiar temperatury w celu walidacji specyfikacji komponentów.
Aby uprościć proces komunikacji rozdzielczości kamery termowizyjnej, należy posłużyć się specyfikacją „IFOV” (stosowaną zamiennie z rozmiarem plamki lub rozmiarem piksela) w celu określenia zdolności kamery do wykrywania zmian temperatury. MFOV należy używać, aby określić zdolność kamery do dokładnego pomiaru temperatury zgodnie ze specyfikacją dokładności kamery termowizyjnej. Większość producentów nie podaje specyfikacji MFOV, dlatego należy skontaktować się z dostawcą lub pomnożyć IFOV przez co najmniej trzy, aby określić zdolność kamery do dokładnego pomiaru temperatury.
Optris Xi 400 z pakietem mikroskopowym jest promowany jako doskonałe rozwiązanie do zastosowań elektronicznych, ponieważ został opracowany z optyką zaprojektowaną specjalnie do tego celu, zapewniającą zarówno małą wartość IFOV (80 µm), jak i MFOV (240 µm). Jeśli weryfikujesz niskie temperatury pracy chipów i nie znasz tej ważnej różnicy, możesz założyć, że Twoje urządzenie działa w zakresie specyfikacji temperaturowej, podczas gdy w rzeczywistości jest gorące i skazane na awarię na wczesnym etapie eksploatacji produktu. Dokładne, zdalne pomiary temperatury w podczerwieni mają ogromną wartość w wielu zastosowaniach, ale ekstrakcja i analiza tych danych z systemu kamer termowizyjnych w innych środowiskach może być często trudna.
Optris Xi 400 oferuje bezproblemową łączność z komputerem poprzez główny interfejs USB i charakteryzuje się imponującą częstotliwością odświeżania obrazu 80 Hz. Ta wysoka częstotliwość odświeżania obrazu umożliwia monitorowanie szybkich procesów termicznych, szczególnie w trybie skanowania liniowego, zapewniając precyzyjne i terminowe gromadzenie danych termicznych w dynamicznych zastosowaniach.
Oprogramowanie Optris PIX Connect rozwiązuje problem ekstrakcji i analizy danych, włączając funkcję pomiaru czasu względem temperatury, która rejestruje dane w określonych przez użytkownika odstępach czasu i zapisuje je w plikach .csv. Inżynierowie preferujący pełne obrazy mogą korzystać ze skalibrowanych plików sekwencji lub skalibrowanych obrazów .tiff, rejestrowanych w określonych przez użytkownika odstępach czasu. Procedura Snapshot Sequence Storage obsługuje również przechowywanie pełnej macierzy temperatury w plikach .csv w określonych przez użytkownika odstępach czasu.
Dzięki wyjściom analogowym i cyfrowym oraz interfejsowi procesowemu, kamera termowizyjna Xi 400 doskonale nadaje się do dostarczania sygnałów sterujących do maszyn i urządzeń. Dostępne są zestawy programistyczne dla integratorów opracowujących rozwiązania programowe dostosowane do konkretnych aplikacji. W przypadku wykrywania zwarć lub usterek, oprogramowanie pozwala inżynierom łatwo zoptymalizować ustawienia wyświetlania temperatury, aby wykrywać nawet najmniejsze wzrosty temperatury. W przypadku bardziej wymagających zastosowań dostępna jest funkcja odejmowania obrazu, umożliwiająca użytkownikom odjęcie obrazu na żywo (np. z w pełni zasilanej płytki drukowanej) od tej samej płytki przy niższym poborze prądu, co pozwala na skuteczniejsze uwidocznienie różnic temperatur.
Dostępne modele
| MODEL | Xi 400 LT 18°x14° MO |
| Stojak mikroskopowy | W komplecie |
| Podkładka ESD | W komplecie |
| Kod zamawiania | OPTXI40LTF20CFKT090 |
Dane techniczne
| Detektor | Bolometr (niechłodzony) |
| Rozdzielczość matrycy | 382x288 px |
| Raster matrycy | 17 µm |
| Pasmo | 8…14 µm |
| Filtr optyczny | Brak |
| Częstotliwość ramki | 80 Hz / 27 Hz |
| Rozdzielczość optyczna | 375:1 |
| Kąt widzenia | 18°x14° |
| Ogniskowa (f) | 20 mm |
| Jasność obiektywu (F) | 1 |
| Odległość minimalna | 90…110 mm |
| Wymienny obiektyw | Nie |
| Zakres pomiarowy | –20…100°C / 0…250°C / (20)150…900°C [*1] |
| Dokładność | ±2°C lub ±2%, zależnie co większe |
| Czułość termiczna (NETD) | 80 mK |
| Chwilowe pole widzenia IFOV (1x1 px) | 80 µm |
| Minimalne mierzalne pole widzenia MFOV | 240 µm |
| Wielkość pola MFOV | 3x3 px |
| Czas stabilizacji termicznej | 10 min |
| Emisyjność / przepuszalność / współcz. odbicia | 0.100…1.100 |
| Interfejsy |
|
| We./wy. bezpośrednie |
|
| We./wy. opcjonalne (izolowany galwanicznie interfejs PIF) |
|
| Długość kabla | USB: 1m (std.), 3m, 5m, 10m, 20m |
| Konfiguracja | PIX Connect |
| Działanie | Wspomagane komputerem |
| Wymiary | Ø36x100 mm, gwint M30x1, stojak: 300x220x150 mm |
| Masa | 220 g |
| Materiał obudowy | Stal kwasoodporna |
| Temperatura pracy | 0…50°C |
| Temperatura przechowywania | -40…70°C |
| Wilgotność względna | 10…95%, bez kondensacji |
| Stopień ochrony | IP67 |
| Kompatybilność EMC | Dyrektywa 2014/30/UE |
| Odporność na wibracje | IEC 60068-2-6 (sinusoidalne) / IEC 60068-2-64 (szerokopasmowe) |
| Odporność na wstrząsy | IEC 60068-2-27 (25G i 50G) |
| Zgodność z przepisami | CE, RoHS, UKCA |
| Napięcie zasilania | 5 V (USB) |
| Pobór mocy | max. 2.5 W |
| Przypisy | 1) dokładność określona powyżej 150°C |