System inspekcji szkła top-down GIS 640R

Szkło niskoemisyjne (Low-E), zaprojektowane w celu zwiększenia efektywności energetycznej budynków, stanowi poważne wyzwanie dla tradycyjnych urządzeń wykorzystujących podczerwień (IR) do pomiaru temperatury szkła od góry, gdy tafle wychodzą z pieca. Powszechnie stosowane w oknach i elementach fasadowych, szkło niskoemisyjne jest zazwyczaj konstruowane jako wieloszybowe szkło izolacyjne z powłoką o bardzo niskiej emisyjności. Ta niska emisyjność utrudnia dokładny pomiar temperatury szkła za pomocą tradycyjnych liniowych skanerów podczerwieni, ponieważ zazwyczaj celują one w stronę powlekaną od góry, co prowadzi do potencjalnych niedokładności odczytów temperatury i problemów z kontrolą jakości.

System inspekcji szkła Top-Down (Top-Down GIS) został opracowany w celu rozwiązania tego problemu. System ten ma na celu zapewnienie dokładnych pomiarów temperatury szkła niskoemisyjnego podczas produkcji. W przeciwieństwie do Bottom-Up GIS, który mierzy temperaturę od spodu szkła, Top-Down GIS mierzy temperaturę od góry, wykorzystując dodatkowy pirometr referencyjny od dołu do korygowania emisyjności. To podwójne podejście pomiarowe zapewnia wykrywanie wadliwych lub niejednorodnych powierzchni i umożliwia regulację nagrzewania lub chłodzenia w oparciu o rozkład temperatury, zapewniając optymalną jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Pomiar od dołu jest konieczny z dwóch powodów: powlekana górna strona szkła ma niską emisyjność, co utrudnia dokładny pomiar, a ze względu na niską wysokość pieca często brakuje miejsca na pomiary od dołu za pomocą kamer. Taka konfiguracja wymagałaby zastosowania więcej niż jednej kamery, a szerokokątny obraz mógłby mieć różny wpływ na pomiary. Dzięki zastosowaniu dodatkowego pirometru referencyjnego od dołu, system Top-Down GIS może korygować wahania emisyjności i zapewniać dokładne odczyty temperatury, nawet w ograniczonej przestrzeni pieca. To podwójne podejście zwiększa zdolność systemu do wykrywania wad i precyzyjnej kontroli nad procesem produkcji szkła.

System Top-Down GIS wykorzystuje dwie kamery na podczerwień o wysokiej rozdzielczości, umieszczone nad linią hartowania, do pomiaru temperatury górnej strony szkła. Ten system, a w szczególności Top-Down GIS 640 R, obejmuje pomiar temperatury odniesienia z czujnika umieszczonego poniżej oraz automatyczną korekcję emisyjności zarówno dla szkła standardowego, jak i niskoemisyjnego. Został on opracowany specjalnie do sterowania procesami w maszynach do hartowania szkła. Funkcja skanowania liniowego z kamerą PI z góry, w połączeniu z pomiarami referencyjnymi z pirometru umieszczonego poniżej, jest niezbędna, ponieważ powłoki niskoemisyjne minimalizują promieniowanie podczerwone przechodzące przez szkło, ale nie ograniczają efektu termicznego światła widzialnego. To podwójne podejście pomiarowe zapewnia dokładne odczyty temperatury i skuteczną kontrolę procesu, utrzymując jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Kamery termowizyjne stosowane w Top-Down GIS, takie jak zintegrowana PI 640i G7, zostały opracowane specjalnie dla przemysłu szklarskiego. Kamery te charakteryzują się odpowiedzią widmową 7.9 μm i zakresem temperatur 150…1500°C, dzięki czemu nadają się do szerokiego zakresu zastosowań w produkcji, rafinacji i dalszym przetwarzaniu szkła. Połączenie tych kamer z zaawansowanym pirometrem referencyjnym zapewnia dokładne i niezawodne pomiary temperatury różnych produktów szklanych, w tym tafli szklanych. Wysoka rozdzielczość umożliwia precyzyjne mapowanie temperatury i kompleksowe pokrycie całej powierzchni szkła, gwarantując, że żaden obszar nie zostanie pominięty.

System zawiera cyfrowo sterowany system ochrony soczewek (DCLP), który eliminuje potrzebę dodatkowego przedmuchiwania. Ten system kontroli szkła umożliwia szybkie wykrywanie różnic temperatur podczas procesów hartowania szkła, co pozwala uniknąć odrzutów i zapewnia automatyczne monitorowanie jakości. DCLP zapewnia czystość i sprawność soczewek, zwiększając ogólną niezawodność i wydajność systemu w utrzymaniu wysokich standardów produkcji szkła.

Kamery termowizyjne Optris są dostarczane z bezpłatnym oprogramowaniem PIX Connect, które umożliwia pracę kamer jako kamer liniowych. Tradycyjne skanery liniowe, stosowane w przemyśle szklarskim do różnych procedur pomiarowych, są nieporęczne, drogie i wymagają znacznego nakładu pracy ręcznej podczas konfiguracji. Natomiast system kamer termowizyjnych jest kompaktowy i ekonomiczny, oferując szereg korzyści. Oprogramowanie umożliwia elastyczne pozycjonowanie i wymiarowanie linii skanowania, dostarczając kompletne obrazy w podczerwieni, które dostarczają cennych dodatkowych informacji, szczególnie podczas konfiguracji. Ta elastyczność upraszcza proces instalacji oraz zwiększa ogólną wydajność i dokładność pomiarów temperatury w produkcji szkła.

Kamery mogą precyzyjnie mierzyć temperaturę powierzchni ruchomych obiektów przy użyciu minimalnej apertury, co jest szczególnie istotne w przemyśle szklarskim. Ponieważ temperatura szkła bezpośrednio wpływa na jego jakość, precyzyjny pomiar temperatury w wielu punktach podczas produkcji ma kluczowe znaczenie. Zebrane dane są przesyłane bezpośrednio do systemu sterowania procesem, umożliwiając regulację w czasie rzeczywistym i zapewnienie optymalnej jakości produktu. Ta funkcja pomaga zachować spójność, zmniejsza ryzyko wystąpienia wad i zwiększa ogólną wydajność procesu produkcyjnego.

Oprócz pomiaru rozkładu temperatury, system Top-Down GIS oblicza powierzchnię szkła. Ta funkcja jest niezbędna do kontroli procesu i zapewnienia jakości, umożliwiając szczegółową analizę szkła w trakcie produkcji. Zdolność systemu do dostarczania dokładnych danych dotyczących temperatury pomaga utrzymać jakość i spójność szkła, co ma kluczowe znaczenie dla jego wydajności w zastosowaniach energooszczędnych. Zapewniając precyzyjne monitorowanie temperatury i obliczanie powierzchni, system Top-Down GIS wspiera produkcję wysokiej jakości wyrobów szklanych, spełniających rygorystyczne normy branżowe.

System Top-Down GIS jest dostarczany jako wstępnie zmontowany system, który można łatwo zainstalować w piecach do hartowania szkła. To kompleksowe rozwiązanie upraszcza proces wdrażania, umożliwiając producentom szybką integrację systemu z istniejącymi liniami produkcyjnymi. Konstrukcja systemu zapewnia minimalne zakłócenia podczas instalacji, zapewniając jednocześnie natychmiastowe korzyści w zakresie dokładności pomiaru temperatury i kontroli procesu. System składa się z kilku wstępnie okablowanych komponentów gotowych do natychmiastowego użycia. System podczerwieni zasilany jest napięciem 24 V i łączy się z komputerem za pomocą kabla Ethernet. System może być używany bezpośrednio z oprogramowaniem analitycznym PIX Connect i predefiniowanym układem, co umożliwia bezproblemową obsługę i efektywną analizę danych od momentu instalacji.

Szkło niskoemisyjne (Low-E), zaprojektowane w celu zwiększenia efektywności energetycznej budynków, stanowi poważne wyzwanie dla tradycyjnych urządzeń na podczerwień (IR), które mierzą temperaturę szkła od góry, gdy tafle wychodzą z pieca. Szkło niskoemisyjne, powszechnie stosowane w oknach i elementach fasad, jest zazwyczaj konstruowane jako wieloszybowe szkło izolacyjne z powłoką o bardzo niskiej emisyjności. Ta niska emisyjność utrudnia dokładny pomiar temperatury szkła za pomocą tradycyjnych skanerów liniowych na podczerwień, ponieważ zazwyczaj celują one w stronę powlekaną od góry, co prowadzi do potencjalnych niedokładności odczytów temperatury i problemów z kontrolą jakości.

System inspekcji szkła Top-Down (Top-Down GIS) został opracowany w celu rozwiązania tego problemu. System ten ma na celu zapewnienie dokładnych pomiarów temperatury szkła niskoemisyjnego podczas produkcji. W przeciwieństwie do metody Bottom-Up GIS, która mierzy od spodu szkła, metoda Top-Down GIS mierzy od góry, wykorzystując dodatkowy pirometr referencyjny od dołu do korekcji emisyjności. To podwójne podejście do pomiaru zapewnia wykrywanie wadliwych lub niejednorodnych powierzchni i umożliwia regulację ogrzewania lub chłodzenia w oparciu o rozkład temperatury, zapewniając optymalną jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Pomiar od dołu jest konieczny z dwóch powodów: powlekana górna strona szkła ma niską emisyjność, co utrudnia dokładny pomiar, a ze względu na niską wysokość pieca często brakuje miejsca na pomiary od dołu za pomocą kamer. Taka konfiguracja wymagałaby więcej niż jednej kamery, a szerokokątny obraz mógłby mieć różny wpływ na pomiary. Dzięki zastosowaniu dodatkowego pirometru referencyjnego od dołu, metoda Top-Down GIS może korygować wahania emisyjności i zapewniać dokładne odczyty temperatury, nawet w ograniczonej przestrzeni pieca. To podwójne podejście do pomiaru zwiększa zdolność systemu do wykrywania wad i precyzyjnej kontroli nad procesem produkcji szkła.

System Top-Down GIS wykorzystuje dwie kamery termowizyjne o wysokiej rozdzielczości, umieszczone nad linią hartowania, do pomiaru temperatury górnej powierzchni szkła. System ten, a w szczególności Top-Down GIS 640 R, obejmuje pomiar temperatury odniesienia z czujnika poniżej oraz automatyczną korekcję emisyjności zarówno dla szkła standardowego, jak i niskoemisyjnego. Został on opracowany specjalnie do sterowania procesami w maszynach do hartowania szkła. Funkcja skanowania liniowego z kamerą PI powyżej, w połączeniu z pomiarami referencyjnymi z pirometru poniżej, jest niezbędna, ponieważ powłoki niskoemisyjne minimalizują promieniowanie podczerwone przechodzące przez szkło, ale nie efekt termiczny światła widzialnego. To podwójne podejście pomiarowe zapewnia dokładne odczyty temperatury i skuteczną kontrolę procesu, utrzymując jakość i powtarzalność produkcji szkła.

Kamery termowizyjne stosowane w systemie Top-Down GIS, takie jak zintegrowany PI 640i G7, zostały opracowane specjalnie dla przemysłu szklarskiego. Kamery te charakteryzują się czułością widmową 7.9 μm i zakresem temperatur 150…1500°C, co czyni je odpowiednimi do szerokiego zakresu zastosowań w produkcji, rafinacji i dalszym przetwarzaniu szkła. Połączenie tych kamer z zaawansowanym pirometrem referencyjnym zapewnia dokładne i niezawodne pomiary temperatury różnych produktów szklanych, w tym tafli szklanych. Wysoka rozdzielczość umożliwia precyzyjne mapowanie temperatury i kompleksowe pokrycie całej powierzchni szkła, gwarantując, że żaden obszar nie zostanie prześwietlony.

Parametry techniczne